まず JTAGデバッガとの違いについて
JTAGデバッガは、ソフトウエアのデバッグや書込み、FPGA/CPLD へのインシステムプログラミングに利用されます。本来、IEEE Std 1149.1はバウンダリスキャンテストの規格ですが、その中のJTAG通信プロトコルのみを利用します。JTAG信号を介してデバッグやプログラミング用のレジスタにアクセスできることの優位性が、デバイスメーカに認められたためです。そして多くのソフトウエア技術者によるデバッグやFlashプログラミング、ハードウエア技術者のインシステムプログラミングの需要を満たすことで広く採用されています。
JTAGバウンダリスキャンテストツールで出来ることや、各種機能について日本語音声で解説する動画を公開しました。
JTAGバウンダリスキャンテストツールは、基板実装のテストに利用されます。IEEE Std 1149.1に準拠したデバイスのコアと信号線の境界に追加された専用レジスタをJTAG信号を介して制御することで、基板に実装されたJTAGデバイス信号線を検査プローブにします。これはBGA実装を電気的にテストする唯一の手法であることや、検査装置の治具と費用を削減することから、改めて注目され始めています。以前のJTAGバウンダリスキャンテストツールは「難しくて高い！」 と不評で、普及の足枷になっていました。未だに良い印象を持たれていないお客様も多いように感じています。しかしながらこの問題は、XJTAGの高度なソフトウエア技術で一新され、専門知識が無くても、開発時のデバッグから製造検査、不良解析まで一貫して活用できるようになりました。
以下の各記事では、バウンダリスキャンテスト技術の基本を紹介します。また、その能力を最大限に引き出すXJTAGの注目の機能についても言及します。
JTAG バウンダリスキャンセミナー
実践的な内容に、質疑応答が1時間近くになるなど、お陰様でたいへん盛り上がりました。JTAGテストで考慮すべき課題が実践経験をもとに紹介されたことが良かったかと思います。
“容易なテスト生成、故障解析、高速フラッシュ書込みなどXJATG社の高い技術と先進的な取り組みに感心しました。また開発技術者から直接話しを聞けたのは素晴らしいことでした。” ‐富士通株式会社 ものづくり推進本部 シニアエキスパートエンジニアSEE、技術士(電気電子) 亀山修一様（バウンダリスキャンハンドブック の監訳者）
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