「難しくて高い！」 と評判の悪かったJTAGバウンダリスキャンテストツールに革新をもたらしたXJTAG社のソフトウエアは、抽象化技術を取り入れて、デバイスごとにテストプログラムをライブラリ化しています。他社製品のように、JTAGデバイス信号の操作を意識する必要はありません。例えばメモリデバイスを定義すれば、そのテストライブラリの割り付けが自動化されます。そして、異なる基板へのライブラリの再利用も容易です。カバレッジやデバッグ機能などのツール内連携も良く、設計・開発から製造検査や不良解析にまで一貫して活用されるようになりました。
Elettronica社は、中・高複雑度基板およびモジュールのテストカバレッジを向上させるための最適なソリューションとして、XJTAGバウンダリスキャンを採用しました。XJTAGを選んだ主な理由の一つは、インサーキットテスターや機能テストシステムへの統合が容易であることです。
Elettronica社はイタリアのローマに本社を置き、電子戦、サイバーセキュリティ、および関連する教育・訓練の分野におけるリーディングカンパニーです。70年近くにわたり電子戦の最先端を走り続け、30カ国にハイテクシステムを提供しています。同社のシステムは、戦略的監視や信号情報収集から、航空、海上、地上作戦における電子防御や自己防衛まで、様々な重要な作戦任務に活用されています。2021年には、働きがいのある企業として高く評価されました。
Elettronica社は「卓越性は単なる付加価値ではなく、絶対的に不可欠な要素である」と強く信じており、その理念は製造・試験施設を含む会社全体に適用されています。そのため、同社のエンジニアが生産現場で複雑なアセンブリをテストするための最善のソリューションを模索するのは当然のことでした。
XJTAGバウンダリスキャンは、RFシステムへの組み込みを目的としたボードやモジュールのテストに使用されています。回路基板上のFPGAは、ボードとその各種インターフェース（RS485、RIO、PCIeなど）をテストするための主要なJTAGデバイスとして使用されます。「XJTAGバウンダリスキャンは、当社の機能テスターによるテストを補完し、両者を組み合わせることで、テストカバレッジ全体が大幅に向上しました」と、検証・妥当性確認部門のテストエンジニアリング責任者であるGiulio Di Altobrando氏は述べています。
テストエンジニアリングチームは、XJTAGを使用することでテストカバレッジの向上にとどまらず、他のシステムと比較してテスト開発時間の短縮というメリットも得られることを発見しました。「テストの作成が非常に簡単であることが分かりました」とテストエンジニアのFranco Bellucci氏は説明します。「モデルファイルのライブラリと、テスト全体または一部を簡単に再利用できる機能のおかげで、開発スピードが大幅に向上しました。テストが読みやすく理解しやすいため、学習曲線も短くなっています。これらの要素が相まって、テストを迅速に稼働させることができました。」
テストは統合開発環境であるXJDeveloperで作成されます。その強力なアルゴリズムと直感的なインターフェースにより、テストの作成が容易になり、エンジニアはバウンダリスキャンの規格であるIEEE 1149.xの複雑さから解放されます。「テスト開発システムの使いやすさも、XJTAGを選んだ理由の一つです」とGiulio Di Altobrando氏は付け加えました。「このソフトウェアのグラフィカルインターフェースは非常に直感的です。また、システムの柔軟性も気に入りました。テストを開発し、統合されたJTAGチェーンデバッガを実行してテストシステムのトラブルシューティングを行い、XJInvestigatorを使用して不良ボードのデバッグを支援することができました。」
XJInvestigatorは、主に修理工場での使用を想定して設計されています。生産ラインのテストソフトウェアと同じテストプロジェクトを実行することで、不具合を正確に再現できるだけでなく、修理技術者がJTAGデバイスの個々のピンを操作して読み取ることも可能です。これにより、不具合をさらに詳しく調査できます。例えば、ピンを切り替えてオシロスコープやマルチメーターで基板上の信号を追跡することで、断線箇所を特定できます。
「XJTAGは、私たちの期待を完全に満たす素晴らしいツールセットを提供してくれます」とBellucci氏は締めくくりました。
XJTAGの圧倒的な事例集へ
特徴
| テストの自動生成 |
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ネットリスト、BOMを解析して
JTAG未対応デバイスのテストも自動生成
| JTAG未対応デバイスの機能テスト＝無償！ |
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DDRメモリ、FlashROM 、標準ロジックIC など
追加や変更をユーザ側でも行える柔軟性
ライブラリのソースコードを公開
| 明朗会計（従来品の半額以下）＋ 安心サポート |
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FTDIをサポート
XJTAGソフトウェアのバージョン4.3で、FTDIのJTAGコントローラハードウェアのサポートを追加しました。従来、XJTAGを利用するには専用ハードウェアプローブの接続が必須でしたが、今回のアップデートにより、基板上に実装されているFTDIチップをそのままJTAGコントローラー（テストプローブ）として利用して、XJTAGの強力な自動テスト生成機能（回路データからの自動作成）や、直感的な 回路図・レイアウトビューア連携デバッグ機能 を活用いただけます。設定の難しかったOpenOCDやUrJTAGを使う必要はありません。
多くのFTDIチップには、MPSSE (Multi-Protocol Synchronous Serial Engine) というハードウェアエンジンが搭載されています。これは、USB経由のコマンドによって、SPI、I2C、そしてJTAGなどを高速かつ正確にシリアル変換する機能です。今回のXJTAGのアップデートは、このMPSSE機能を利用して、専用JTAGコントローラを使わずに、基板上のUSBポート（FTDI経由）から直接ターゲットICのバウンダリスキャンを行えるようにしたものです。
従来製品に対する優位性から、XJTAG は BGAなど搭載される基板のデバッグ・実装検査・不良解析など、製品ライフサイクルの全般にわたって活用されています。
① テストプログラムはデバイスごとの無償テストライブラリをGUIで登録して簡単に構築できる
② 簡単なので設計時にテストプログラムからカバレッジを解析し、設計を早期改善。そして基板が上がればターゲットのブートプログラミング無しにデバッグ・テストを直ちに開始できる
③ 設計変更に伴うプログラムの修正はテストライブラリの再利用で容易。テスト開発・保守の工数を飛躍的に改善する
XJTAG開発システムは、IEEE 1149.1及び1149.6 のJTAGバウンダリスキャン・スタンダードに準拠し、電子基板のデバッグ・テスト・プログラミングを簡単に実現できるJTAG テストスイートで、HWとSWで構成されています。
従来のJTAGバウンダリスキャンテスタは基板ごとに詳細なプログラミングや構成が必要で、その専門知識の習熟は困難で、プログラミングに多くの開発工数が必要でした。
さらに従来製品の問題は、テストプログラムの再利用性が低いために設計変更ごとに多大な開発工数（費用）が生じ、初期導入費用が高いことも影響して、普及の足かせになっていました。
JTAGバウンダリスキャンテストに革新をもたらしたXJTAGは、ソフトウエアの抽象化技術を取り入れて、デバイスごとにテストプログラムをライブラリ化しています。そしてテスト開発や再利用が簡単になり、容易に習熟して短期間で使いこなせます。この事実は、多くの顧客事例で証明されています。
テストプログラム開発環境に含まれる XJEase library には、DDRやFlashなどメモリを代表に、あらゆるJTAG 未対応デバイスのテストプログラムが提供されます。これにより、JTAGテストを始めて導入する場合でも、プログラミングすることなく完全な機能テストを行えます。
また他社製品のように追加費用も求めませんので、安心してJTAGテストに取組んでいただけます。
①ムーアの法則に伴い、FPGAなど配線密度は増加の一方
②１つの接続ごとのテスト費用は25年来変わっていない
③従来のテスターは基板依存が高く、再利用性が低い
このように従来式のテストは多くの制約を抱えています。品質を改善・維持すると同時にコスト効率を高めるには、テストを意識した設計・開発（デザイン for テスト）が求められます。現状の仕組みが破綻する前に、JTAG バウンダリスキャンテスタへの取り組みは不可欠です。
一般的には、製造検査工程では ICTの後にJTAGバウンダリスキャンテスト、そしてファンクショナルテスタの順で行われ、ICTのテストフィクスチャの削減と、ファンクショナルテストの多くを代替えして開発工数の軽減により、多くの費用削減に貢献します
IEEEスタンダードであるJTAG バウンダリスキャンテストは、僅か４～５本の信号接続でJTAGデバイスの信号線をプローブとして操作・観測するテスト技術。基板に対する物理的な依存性が低く、ツールの工夫によりテストプログラムの再利用性が高くなります。
テストプログラムはネットリスト、BOM、BSDLファイルがあれば設定できるので、設計段階で用意すれば、プロトタイプデバッグから量産検査・不良解析・診断へと製品ライフサイクル全般にわたって活用できる。しかもコストパフォーマンスに優れたJTAG バウンダリスキャンテストは、今や基板テスターの常識です。
ブートプログラムが無くてもテストを開始
JTAG バウンダリスキャンテストの実行にターゲットのブートプログラムは必要ありません。JTAGデバイスの信号線をプローブとして直接制御できるからです。
そしてXJTAGならテストプログラム開発はとても簡単。GUIでネットリストを自動解析させて、BOMの情報から自動分類されるデバイスごとのテストライブラリの登録・確認が主な作業です。 設計の早期段階でテストプログラムを開発しておけば、初版の基板で直ちにテスト・デバッグを開始できるようになります。
さらにテストカバレッジを上げるための考察を設計に反映させれば、デバッグ作業の繰り返しも軽減。DFTカバレッジ解析機能
再利用性が高く、異なるプロジェクトにも容易に利用できる、XJTAGのテストライブラリは無償でダウンロードできます。
BGAなどの信号線に直接アクセスできるJTAG バウンダリスキャンテストなら、基板上のテストポイント数を削減して、基板の小型化やレイアウトも容易になります。
価格が安くて簡単なことから、設計時のデバッグやDFT解析、量産時の検査・不良解析の両方に活用されて、両部門間のコミュニケーション手段としても役立てられています。
XJRunner によるテスト実行
回路基板の構成： XJTAGには、JTAGデバイス、Flashメモリー、コンフィグレーションROMをプログラムして基板を設定する機能があります。XJRunnerのシリアル番号操作機能と定義可能なログファイルを使えば、生産工程の状態を簡単に管理することができます。コンパクトで持ち運び可能なUSB-JTAGプローブ本体にライセンスが書き込まれている為、要求に応じて柔軟に、様々なサイトで使用可能です。
またJTAG信号のスキューコントロール機能があるため、より長いケーブルを使用することが可能で、現実的な環境試験が可能です。
＜試作基板の信頼性をXJTAGテストで向上＞
設計段階で作成する事の出来るXJEaseテストプログラムにより、基板ができれば直ちに機能テストを開始できるようになります。まず、ビルトインのアドバンスド・インターコネクション・テスト機能でJTAGデバイスの相互接続と基板全体に対する接続テストが実施されます。
また、XJIOボードを使えば、外部インターフェースのテストも可能です。XJEaseは電線の接続やパーツの取り外しのような、あらゆる変更に即座に対応し、Ethernetのループバックテストのような複雑なテストも実行可能です。多くのJTAG未対応デバイス用のテストプログラムが、XJTAGのウェブサイトからダウンロード可能です。また、独自のテストプログラムの作成や要求に合わせたカスタマイズも可能です。
＜試作基板をデバッグXJAnalyser＞
簡単な３ステップの手順のみでXJAnalyserを起動して、JTAGデバイスのピンをグラフィカルに表示すること、ピンやバスをワンクリックで読み書きすることが可能です。接続をトレースすることや、開放と短絡を確認する為にトグル信号を発生することも可能です。STAPL/JAMやSVF形式のファイルを使って、デバイスにプログラミングすることも簡単。XJAnalyserを使えば、僅か数分で新しい基板のデバッグが始められます。
JTAGピンの信号波形をリアルタイム表示
XJAnalyser にJTAGピンの信号波形をリアルタイム表示する機能が追加されました。BGAなどプローブ接続できないデバイス搭載基板のデバッグ、不良解析を効率化します。
＜コンパクトな携帯型ソリューション-XJTAGの全ての機能が手の中に＞
オンサイトで基板を修理する場合でも、持ち帰る場合でも、XJTAGを使えば、素早く正確に不具合を検出して診断することもできます。設計、試作、製造の過程で開発した全てのインターコネクトテストと機能テストが利用可能です。XJIOボードを使って基板上にあるコネクタの正当性も確認可能です。また、XJAnalyserによるピン状態の詳細表示と制御機能を使えば、不具合を診断して、修理後の検証ができるようになります。XJTAGのadvanced fault diagnostics機能で不具合の発生場所をピンポイントに特定して、部品交換できます。JTAGデバイス（CPLD、FPGA等）とJTAG未対応デバイス（Flashメモリなど）の両方に使えるインシステム・プログラミング機能を使えば、ファームウェアのアップグレードも簡単です。
XJFlash
XJExpress-FPGA
XJExpress-FPGAは、XJFlashの機能のみに絞ったツールです。バウンダリスキャンテストは必要ないが、XJFlashの超高速プログラミングが欲しいといった、多くの需要にこたえるかたちで実現しました。
接続テスト（或いはインターコネクトテスト）は、あらゆるテストスイートにとって不可欠な機能で、“部品が適切に基板上に半田付けされているか？”と“回路内に短絡箇所が無いか？”をチェックします。
より向上された接続テスト
ATPG “オンザフライ”の自動テストパターン生成
XJTAGの接続テストは、実行の度にテストパターンを生成します(Automatic Test Pattern Generation – ATPG) 。 そのためツールベンダーなどによる新しいテストパターンの開発は必要なく、基板のあらゆる設計変更に簡単に素早く対応できます。
レジスタ越しのテスト
この図は、大多数のJTAG接続テストで問題となる状況を示しています。殆どの従来の接続テストで用いられているアルゴリズムでは、NetCとNetDの 短絡は検出できますが、NetAとNetBの様に直列抵抗を介した短絡は検出できません。XJTAGの接続テストアルゴリズムはこの問題を解決します。
標準としての診断機能
すべてのシステムの標準部品として提供される高精度の障害分離診断は、検出された障害の種類、関連するネットおよびピンを強調表示し、基板のレイアウトと回路図へのリンクを提供して、ボードの修理を支援します。
XJTAGとテストシステムを統合する
XJTAGのソフトウェア、ハードウェアは、他のテストシステムやツールと統合できます。
これらの統合機能は、既存のシステム内でXJTAGを使用すること、あるいはXJTAGをベースに他の機器を統合するなど、必要なテストシステム全体を構築する柔軟性を提供します。
ソフトウェアの統合
XJTAGのテストを実行する標準インターフェースはXJRunnerです。これは、使いやすいグラフィカルなランタイム環境です。しかしながら、JTAGバウンダリスキャンテストは、他の多くのテスト環境に統合して実行することもできます。XJIntegration APIを介して、他のソフトウェアからXJRunnerおよびXJAnalyserの機能にアクセスすることができます。
XJIntegration
XJIntegrationは.NET DLLであり、他の.NETプログラムがXJPackファイル（XJRunnerのプロジェクト）を開いてテストや関数を実行したり、XJAnalyserの機能を使用して個々のピンの値を制御または読み取ることができます。また、他社の検査環境内にXJRunnerのテスト出力ウィンドウなどを埋め込むこともできます。もちろん、テスト結果は、呼び出し元のプログラムによって簡単に取得でき、より大きなテスト環境の一部に統合できます。
National Instruments – LabVIEW / LabWindows CVI / TestStand
これらのテストは、独立して実行することも、他のテスト機器とやり取りすることもできます。National InstrumentsのLabWindows™/ CVI™は、ANSI Cで記述された独自のテスト環境にさまざまなテスト技術を簡単に統合する機能を提供します。XJTAGのテストは、付属のWindows標準プログラミングインターフェイス（.NET）を使用して、CVIテストシステムの一部として実行できます。
独自のテスト環境
独自のテスト環境からJTAGテストを実行する場合は、XJIntegration .NETインターフェースを使用したプログラムでテストを制御できます。参照できるC＃で記述されたサンプルアプリケーションが、XJTAG開発システムのインストール内にあります。
ATEの統合
XJTAGは、テストカバレッジを最大化し、かつテスト時間を短縮するために、様々な機器ベンダーとの高度なレベルのソフトウェア統合機能を備えています。
特に、SPEAのLeonardoシステム、TakayaのAPT-1400Fソフトウェア、およびKeysightのBTBasic環境との統合により、XJTAGと他のテストシステム間の高度な相互作用が可能になります。
コマンドラインアクセス
XJRun（XJRunnerのコマンドラインバージョン）はXJTAG開発システムの一部で、XJTAGのテストを他のソフトウェアからコマンド実行することができます。
XJRunは、XJTAGのテストセットアップ内で個別のテストまたはテストのグループを実行するように構成できます。XJRunから返された値を使用して、制御ソフトウェアの機能に応じて、単純な結果（成功/失敗）、あるいはエラーの詳細情報をレポートします。
ハードウェアの統合
XJTAGは、ICTなど他のさまざまなテスト機器に物理的に統合して、完全に統合されたテストステーションを構築することもできます。
自動テスト装置（ATE）マシンには多くの種類があり、XJTAGと統合できるレベルも数多くあります。ATEマシンとの統合は、ハードウェア、ソフトウェア、またはその両方で行うことができます。
主なATE手法は次のとおりです。
- インサーキットテスト（ICT）
- フライングプローブテスト（FPT）
- ファンクショナルテスト（FCT）
- 自動光学検査（AOI）
- 自動X線検査（AXI）
XJTAGは、いくつかのICTおよびFPTベンダーとハードウェア統合されており、それら専用のJTAGコントローラーカードを、ICTまたはFPTマシンの内部、通常は拡張モジュールスロットに挿入します。これらのベンダーのほとんどはソフトウェアも統合もされていて、1つのシステムが他のシステムを呼び出してテストを実行したり、信号を1つのシステムから駆動して別のシステムから読み取ったりする完全統合テストを実行する機能を提供し、XJTAGが統合テスト中にフライングプローブの位置を制御できるようにします。
特定のソフトウェアとの統合が用意されていない場合でも、ほとんどのシステムは外部プログラムを実行できるため、XJTAGとの統合は容易です。他のシステムはXJTAGのXJRunコマンドラインプログラムでテストを実行し、結果を受け取ることができます。同様に、XJTAGは外部プログラムを呼び出して、その結果を読み取ることができます。また、他のベンダーの.NET DLLをロードして、直接テスト機能を実行することもできます。
サポートされるATE機器
XJTAGには現在、次の統合ソリューションがあります。
- SPEA – ICT and flying-probe machines(analog and digital)
Using either XJLink2 or XJLink2-3030 JTAG controllers - Keysight (Agilent) – i3070 ICT machines
Using XJLink2-3070JTAG controller - Teradyne – TestStation ICT machines
Using XJLink2-CFMJTAG controller - Takaya – APT-1400F flying probe systems
Using XJLink2+ JTAG controller with custom I/O expansion card
XJFlash
JTAGバウンダリスキャンはシリアルで動作することから、通常、大きなフラッシュメモリへのプログラミングは非常に遅いのですが、フラッシュメモリに接続されるプログラマブルロジックデバイス（FPGAなど）があれば、XJFlashを使用して、プログラミング速度を劇的に上げることができます。
XJFlashは、基板に搭載されるFPGAの内部回路を使用して、シンプルなフラッシュプログラマーを構成します。これにより、帯域幅が制限されたJTAGスキャンチェーンの制御、アドレス、データビットのシフトなどの反復的なタスクから解放されます。スキャンチェーンからトラフィックを削除することで、XJTAGは、フラッシュメモリの理論上の最大プログラミング速度に迫ることができています。
XJDirect
すべての基板設計に都合良くプログラマブルロジックデバイスが搭載されていませんが、多くの場合、プロセッサを介してフラッシュメモリにアクセスできるでしょう。その場合、XJDirectを使用して、プロセッサのデバッグポートにアクセスし、プログラミング速度を大幅に改善できます。
JTAGの速度が問題になる場合は、プログラミング速度の改善策は、特定の設計やアプリケーションに依存します。最良の解決策を得るために、XJTAGにまでご相談ください。
Layout Viewer により基板上の部品やネット、ピンの物理的な場所を即座に特定。ODB++ ジョブから抽出されたレイアウト設計データの表示をするこの機能は、XJDeveloper、XJInvestigator と XJRunner の両方で活用いただけます。
Layout Viewer によりテスト実行時に見つかったあらゆる欠陥をビジュアル表示。Connection Test の結果出力に含まれるリンクをクリックすることで、関連する全ての回路エレメントをダイレクトに表示します。
主な効果
- 修正が必要な欠陥箇所の的確なビジュアル表示で解析作業を支援
機能
- 欠陥箇所の特定を支援
- 対象物間の距離を測定
- 表示するレイヤーを制御
- 高度なレイヤーとズームの制御
- グラフィック表示を、クリップボード、ファイル、プリンタにエクスポート
- 製造担当者向けに基板写真をインポート
XJDeveloper、XJInvestigatorとXJRunner に標準装備
欠陥箇所の特定を直ちに行えるLayout Viewerは、XJDeveloper、XJInvestigator と XJRunner に標準装備しています。
回路エレメントの可視化
高度なグラフィカル表示で、選択された部品やネットをハイライト表示。個々のレイヤー表示をオン・オフさせて、特定の回路エレメントを見ることも簡単です。
欠陥箇所を直ちに特定
Layout Viewer により、テスト対象基板の欠陥箇所を素早く特定することができます。
XJRunner のテスト結果（テキスト形式）から欠陥のタイプや関連するネット情報が得られます。そしてリンクをクリックするだけで、欠陥箇所をLayout Viewer に表示。 Layout Viewer で欠陥を含んだネット経路を視覚的に確認すれば、問題の特定も容易です。
以下の例では XJRunner による Connection Test に失敗があった相互に短絡している２つのネットが特定されています。ここでレイアウトを確認することで、メモリーデバイス上の４箇所のパッドが最も可能性 が高いことが容易に判断できます。例えばBGAデバイス部分（図右上）では、これらネットのピンが隣り合っていないことが見えるので、欠陥の可能性は低い と判断することができます。
そして基板上の４箇所を詳しく調べることで、IC31のハンダ不良に問題があることを直ちに判明しました。
基板写真のインポート
基板上の欠陥箇所を特定するために、基板表面と裏面の写真をインポートして活用することもできます。これらのイメージは、部品やネットをハイライト表示しているCAD データの後ろに表示されます。
回路図ビューア（Schematic Viewer）を介して、XJTAGから回路図上の配置を確認することができます。XJDeveloperとXJRunnerに組み込まれており、XJDeveloperでテストプログラムを設定中に任意のデバイス、ネット、ピンから起動することや、XJRunnerによるテスト結果からのリンクとして、回路図を参照しながら、テストの開発や結果の調査を効率的に行えます。
回路上のデバイスを即座にリンク表示させることで、欠陥検出やテストのデバッグ作業を支援。インテリジェントなネットリスト検索で回路図の関連するセクションを強調表示することもできます。
主な効果
- テスト開発・設定、プロトタイプ基板や量産検査時のテスト結果のデバッグ作業を加速
- 強化された検索機能*
機能
- XJDeveloper と XJRunnerに標準装備
- ピン、ネット、デバイスの該当箇所を直ちに検索・表示
- インテリジェントな検索学習機能
- ＰＤＦドキュメントのメタデータ、テキストを検索*
*検索可能なＰＤＦドキュメントが必要
XJDeveloperとXJRunner に標準装備
回路図ビューア（Schematic Viewer）は、XJDeveloper と XJRunnerに標準装備されています。
Safe and secure
事前にXJDeveloper（テスト開発環境）から回路図情報をエクスポートさせることで、製造検査でXJRunnerから回路図ビューア （Schematic Viewer）を起動することができます。逆にXJRunnerへエクスポートしなければ、もし回路図情報を社外秘扱いにすることできます。
Find the right device, net or pin in seconds
ＪＴＡＧテストプログラムの設定や基板のデバッグなど、回路図上でデバイス、ネット、特定ピンの検索は欠かせませんが、回路図ビューア （Schematic Viewer）があれば、テキスト検索とＰＤＦのブックマークを活用して、これらの作業が効果的に行えるようになります。
ＪＴＡＧテストプログラムの全設定段階で、シンプルなコンテキストメニューのクリックから、直ちに回路図上の該当箇所を表示できます。例えばテスト のレビューを支援するDFT（Design For Test Analysis）ツールによるカバレッジ解析にも活用頂けます。
そして初版のボードへのテスト実行結果から、問題と疑われる箇所を回路図上で確かめることができます。そして実基板上のハード的な欠陥なのか、部品が搭載されていないなどの構成上の問題なのかを切り分けることができるでしょう。
更にデバイスが基板上に正しく搭載されていることをチェックするなら、XJTAG Layout Viewerのレイアウト表示機能を活用して物理的な配置をピンポイントに特定できるでしょう。
Generic data import
あらゆる回路図ツールから生成される、標準的なＰＤＦ形式のドキュメントをサポート。
Waveform Viewerは、デバッグや障害診断にユニークな洞察を提供します。データをデジタル波形で表示することで、ライブにJTAGチェーンデータの相関ビューを観測できます。
バウンダリスキャンは信号遷移をリアルタイムでキャプチャすることはできませんが、Waveform Viewerはスキャンチェーンによってキャプチャして、ロジックアナライザタイプのビューでシステムのデジタルアクティビティを表現します。これにより、デバッグおよび障害診断を強化します。
Waveform Viewerは、XJAnalyserの標準機能であり、XJInvestigatorやXJTAG開発システムにも含まれます。
主な効果
- デジタルデータをグラフィカルに視覚化
- 一時的な障害をキャプチャ
- 信号のグループを値として表示
- 定義可能なトリガー条件下でデータを捕獲
機能
- 異なるデバイスからでも、個々の信号の相関をライブに波形で観測
- 信号を任意にグループ化してバスを形成
- 論理レベルの組み合わせまたは信号の立ち上がり/立ち下がりエッジに基づいて、単純または複雑なトリガー条件を設定
- アドレスおよびデータバスを自動的にデコードして、それらの値を2進数、10進数、または16進数の値として表示
- 同一期間にキャプチャされた複数信号からロジックレベルをスキャンして間欠障害の解析を支援
- 分析または比較のためにデータをファイルに保存
Waveform Viewerは、従来のロジックアナライザーにある多くの機能をバウンダリスキャンの領域にもたらします。
Waveform ViewerとXJAnalyserを組み合わせることで、デジタル信号をグラフィカルに制御・観測して、デバッグや障害診断効率を大幅に改善します。
XJDemoは、XJTAG製品の理解を促進する為に使用可能な、完全実装のデモ用基板です。
XJDemoはXJTAGのソフトウェアと一緒に無償で提供されます。また、XJTAGの全ての機能をデモする為の日本語チュートリアルも含まれています。
XJDemoボードには以下の部品が搭載されています:
- Xilinx 9536XL CPLD
- Altera EPM3032 CPLD
- 9個の２色LED
- 2個のプッシュボタンスイッチ
- 2ポジションのスライドスイッチ
- 16K-bit static RAM
- 32K-bit serial EEPROM
- デバッグ用のジャンパーピン（短絡と断線をシミュレート可能）
- JTAG 用コネクタ ( XJLink / PXI )
- XJTAGのチュートリアル
- XJDeveloperプロジェクト
- ２種のSVFフォーマットのサンプルアプリケーション
- 回路図
- BSDLファイル、ODB++フォーマットのネットリストファイル/layout data
すべてのXJTAG製品にインストールされるJTAGチェーンデバッガーは、JTAGチェーンのトラブルシューティングに役立つ強力なツールです。JTAGチェーン上のデバイスを操作して、障害箇所を自動的に特定します。さらに調査が必要な場合、さまざま機能を駆使して、問題の原因を突き止めることができます。初期のプロトタイプボードでのJTAGチェーンのデバッグから、製造ラインで発生した問題の解決まで、製品ライフサイクルのすべての段階で使用いただけます。
破損したJTAGチェーンのデバッグだけでなく、JTAGチェーン内のすべてのデバイスに対して正しいBSDLファイルが割り振られていることも検証します。これにはIDCODEのチェックに加えて、バウンダリスキャンレジスタの長さの照合を行います。
そしてJTAGチェーンが機能することを確認できれば、XJTAGの各種機能を用いて、基板の検査を直ちに開始できます。
主な効果
- 複数のJTAGチェーンの構成を簡単にセットアップ
- JTAGチェーン内の障害箇所をすばやく特定
- 障害のあるJTAGチェーンを調査するためのシンプルなツール
機能
- JTAGピンの現在の状態を表示
- ピンの電圧と周波数を測定
- JTAG信号の配置変更・設定が容易
- IDCodeとバウンダリスキャンチェーンを確認
- JTAGチェーンの最大周波数をチェック
BSDLエディターは、XJDeveloper内でBSDLおよびカスタムセルタイプパッケージのファイルを表示および編集できます。
エディターには、IDCODE、TCK周波数、バウンダリスキャンレジスタの長さ、デバイスの製造元など、BSDLファイル内の情報の概要が表示されます。
メインファイルエディターには構文の強調表示があり、キーワードをさまざまな色で表示して読みやすくしています。エディターは「コードの折りたたみ」もサポートしています。コードのブロックは、左マージンの「-」記号をクリックして折りたたみ、「+」をクリックして再度展開できます。
「厳密な解析モード」でのBSDLファイルの検証
独自のBSDLファイルを作成する場合は、「厳密な解析モード」を有効にして構文エラーを特定することができます。これはBSDLファイルの読み取りに使用するパーサーが、BSDLファイルをIEEE 1149.x仕様に対して厳密に解釈します。識別されたエラーはすべて、エディターの「エラー」セクションに表示されます。
ネットリストがない？ 問題ありません！
テストしたい基板のネットリストがない場合でも、XJDeveloperでネットリストを使用せずに、基板上のJTAGデバイスのBSDLファイルに基づいてテストを作ることができます。一部のデバイスのBSDLファイルがない場合でも、最小限のBSDLファイルを生成することもできます。システムは、接続テスト中に使用するJTAGデバイス間の接続を、動作しているボードから自動的に学習できます。またテストカバレッジを拡張するために、RAM、フラッシュメモリ、I²CやSPIなどのペリフェラルバス上のデバイスなどのJTAG以外のデバイスを追加することもできます。
迅速な修理を支援
この機能は、ネットリストが提供されない基板の修理に役立てられます。以前ならネットリストの提供を待たなければならなかった、あるいはバウンダリスキャンの使用を諦めざるを得なかった状況でも、直ぐにテストを開始できます。この機能が有るXJTAGバウンダリスキャンテストツールは、修理業界にとって非常に重要な選択肢の一つです。
非JTAGデバイスを追加してテストする
'no-netlist'機能を使用すると、基板上のJTAGデバイスへの接続方法を指定するだけで、非JTAGデバイスをテストプロジェクトに追加して、XJEaseライブラリファイルを使用してテストできます。これにより、テストカバレッジが向上し、物理的なプローブ接続を駆使してテストするのに必要な時間と労力を節約できます。
ネットワークライセンスは、ハードウェアプローブ内に書込まれるライセンスの代替手段で、ネットワーク上のどこからでもXJTAGソフトウェアを利用できるようにします。必要なときにいつでもツールを使用できるので、生産性と効率を高めることができます。
主な効果
- 必要なときに必要な場所でXJTAGを起動して生産性と効率を改善
- 製造ラインと設計エンジニアでライセンスを共有して費用を削減
ネットワークライセンスを選択する理由
ネットワークライセンスは、XJTAGのライセンスをグローバルな規模で管理する簡単でコスト効率の高い手段です。プローブ本体を移動させる必要がないので、あらゆる場所でXJTAGを最大限に活用できるようにします。
コストを最適化
異なる製品の複数の製造ラインまたは開発チームが、各々ライセンスを持つ必要はありません。ライセンスが同時に必要になる最大数を共有して、必要に応じて割り当てるだけです。
使用量を最大化
異なるチーム間でソフトウェアを共有することで、XJTAGの使用効率を最大化します。隣の開発チーム、同じ敷地内の異なる事業部、他の国でも、開発と製造部門で、同じツールを共有できます。
どのように機能しますか？
XJTAGのソフトウェア機能の各ライセンスは、ネットワークライセンスサーバー、またはテスト対象基板へ接続するJTAGプローブ本体に保持されます。 ライセンスを保持するXJLink2など小型のプローブ本体は持ち運びに便利ですが、ネットワークライセンスでその範囲をさらに拡張します。設計エンジニアから修理技術者まで、XJTAGのライセンスをサーバーからチェックアウトして、必要なソフトウェアを実行できます。
例えばテストのセットアップだけなら、ネットワークライセンスを使用して、ターゲットハードウェアにJTAGプローブ本体を接続せずに行えます。テストの実行には、JTAGプローブ本体を接続し、ネットワークライセンスを使用します。使用を停止すると、ライセンスはサーバーに解放され、組織の他の場所で使用できます。
ネットワークサーバーにライセンスを保持することで、特定の場所に固定されなくなります。そして組織内のすべてのユーザーが、XJTAGのテスト機能にアクセスできます*。
何を使っているのか？
XJTAGのネットワークライセンス管理には、Flexera Software社が提供するFlexNet Publisher（旧FLEXlm）を使用しています。
FlexNet PublisherおよびFLEXlmは、Flexera Softwareの商標です。
XJAPI ソフトウエア & ハードウエア間インターフェイス
詳しくはこちら
高速USBを搭載するJTAGハードウエア（XJLink / XJLink2）から、アプリケーションプログラミングインターフェイス（XJAPI ）を用いて、JTAGチェインを直接制御します。
あるいは、高速PXI に搭載されたJTAGハードウエア（PXI-01）から、アプリケーションプログラミングインターフェイス（XJAPI ）を用いて、JTAG チェインを直接制御します。
XJTAGのバウンダリスキャンテストツールは、プロトタイプの開発・デバッグから製造検査や不良解析までシームレスに利用されることが特徴のひとつです。そしてフォールトディクショナリにより、既知の欠陥情報が関係者間で共有され、不良解析等の作業が支援されます。
開発技術者と製造技術者で情報共有
フォールトディクショナリは、基板固有の情報を簡単に格納して共有できるので、プロトタイプと製造現場の橋渡しを効率良く支援します。また障害が発見されたときにディクショナリに追加することで、製造段階でも継続的に情報を更新できます。
プロトタイプの立ち上げ時および製造工程の検査中に収集されたデータを登録して、後のテストで同様の障害が検出されたときに、診断を自動的に提案します。障害は、単一のテストが失敗するだけの単純な場合もあれば、多数の関数からの戻り値の特定の組み合わせに依存することもあります。
フォールトディクショナリで定義された基準を満たすテスト実行中に検出された障害条件により、自動的に障害定義がテストオペレーターの画面に表示されます。このメッセージは、基本的なユーザーに必要に応じて指示を出し、さらに重要なことに、修理担当者が基板上のさまざまな障害の場所を迅速かつ効率的に特定するのに役立つ詳細な情報を提供します。
フォールトディクショナリは、XJTAGプロジェクトを安全に格納するXJPackファイルの一部として製造検査環境に渡されます。XJPackファイル自体は編集できませんが（システム設計者が指定したテストと監査が実行されることを保証するため）、テスト開発時または製造現場でフォールトディクショナリは編集されます。それらの経験から障害または障害の特定の組み合わせを指摘します。障害発生時に文書化することで、製造検査時の障害調査の作業が大幅に軽減されます。そして、基板のスループットが向上し、歩留まりが改善します。
主な効果
- 開発チームと製造チームの情報を共有する簡単な手段
- 迅速な故障診断を可能にし、製造検査のコストを削減
- 定義された障害コンディションに基づいて調査を支援
機能
- XJDeveloperでXJRunnerのテスト実行用XJPackファイルを生成時に制限なく障害を登録
- 既知の障害を修正する方法をテスト担当者に提供
- 障害ごとに複数の基準を持たせることで、誤検知を回避
- 製造検査時に既知の障害の（過去の経験から）考えられる原因を表示
- テストがループするように設定されている場合、障害発生の累計を提供
