XJTAG　JTAGバウンダリスキャンテスト

エレクトロテスト ジャパン2012に出展。約1000名のご来場！ 金庫破りゲーム（3名様当選）などで盛上がりました。

従来製品に対する優位性から、XJTAG は BGAなど搭載される基板のデバッグ・実装検査・不良解析など、製品ライフサイクルにわたって幅広く活用されています。

XJTAG 社製品情報ページへリンク　XJTAG開発システムは、IEEE 1149.1及び1149.6 のJTAGバウンダリスキャン・スタンダードに準拠し、電子基板のデバッグ・テスト・プログラミングを簡単に実現できるJTAG テストスイートで、HWとSWで構成されています。　　
既に以前から、複数のJTAGバウンダリスキャンテストツールはありましたが、それらは基板ごとに詳細なプログラミングや構成が必要です。その専門知識の習熟は困難で、プログラミングには多くの開発工数が必要です。さらに問題は、テストの再利用性が低いことで、設計変更ごとに多大な開発工数（費用）が生じ、普及の足かせになっていました。

ボードテストは破綻しつつあります

BGAなど表面実装の増加や、デバイスのピン間隔が狭くなったことで集積回路や基板の検査、デバッグにおいて従来のプローブを立てる手法に限界が生じています

①ムーアの法則に伴い、FPGAなど配線密度は増加の一方　
②１つの接続に費やされるテストのコストは25年来変わっていない　
③従来式のテストはボードに依存し、再利用性が低い

　このように従来式のテストでは既に多くの制約を抱えています。品質を改善・維持しながらコスト効率を向上させるためには、テストを意識した設計・開発（デザインforテスト）が求められています。現状の仕組みが破綻する前に、XJTAGによる新しい仕組みへの取り組みは不可欠です。XJTAG バウンダリスキャンテストツールにより、たった４～５本のJtag信号接続でボードのリアルタイムデバッグをグラフィカルに行えるようになります。　またJTAG未対応のデバイスを含めて機能テストを行うスクリプトは、開発から製造・メンテナンス・フィールドテストにまで共有して利用することができます。　
XJTAG は、コストパフォーマンスに優れ、リアルタイムデバッグを効果的にし、テストスクリプトは再利用される。　ボードテストの新時代の幕開けです。

XJDeveloper ドラッグ＆ドロップでテストプログラムを構築
デザインforテスト(DFT)ガイドライン　を参考に、設計の非常に早い段階からJTAGツールを使用できるようになります。これらの実行に、ターゲットのプログラムは必要無く、ＨＷデバッグに集中することができます。

XJTAGのテストプログラムは、ネットリストに対してデバイスごとのテストライブラリをGUIを用いて登録することで、高い抽象度で簡単に作成できます。　そのため基板設計時に実装テストと機能テストを開発し、設計に対するテストカバレッジを算出し、基板のテスト容易性を上げるための考察を設計に反映させて、繰り返しデバッグを削減できるようになります。

そして初版基板から、作成済のテストを用いて直ちにデバッグ・テストが開始されます。　　

BGAなどの各信号線には、JTAGから直接アクセスできるので、基板上のテストポイントの数を削減できます。基板の小型化も可能で、レイアウトが容易になります。XJTAGには、試作－製造－保守と段階が進み設計が洗練されるたびに高品質なテストカバレージを実現するためのユーティリティーが提供されています。これはあらゆるネットリストの変更にも自動的に対処し、回路内の接続に変更があっても即座に適応されます。また、JTAG未対応デバイス用のXJTAGテストライブラリは再利用性が非常に高く、異なったプロジェクトでも簡単なセットアップで素早くテストプログラムが用意できます。これらのライブラリは、XJTAG社のサイト　から無償でダウンロードができます。

　XJRunnerは、製造工程で低コストのテスト実行環境を提供することに特化した製品です。設計や試作段階で使用したテストプログラムが再利用でき、さらには様々な機能を追加できます。インターコネクトテスト、FPGAやFlash、CPLDなど基板上デバイスへのインシステムプログラミング、機能テスト、シリアル番号の生成と利用、監査の手がかりを得る為の定義可能なログファイルを、１つのユーザーフレンドリーなパッケージの中に収めることが出来ます。ファインピッチやBGAデバイスの接触不良を排除JTAGテストアクセスポート（TAP）を使用するだけで、基板上でXJTAGの全てのテストを実行できます。

　XJRunner によるテスト実行＜日本語もサポート＞　不具合が発生するまでテストをループし続けることで、間欠的な不具合を見つけることも可能です。XJAnaliserを使えば、結果が不確かなX線検査装置の使用を止めることが可能です。それどころか、信号を直接的に検査できるので、デバイスに開放や短絡が無い事を確認する事が可能です。XJIOボードを使えば、テストのカバレージを挙げることが可能です。基板の隅々に至るまで接続確認が可能で、電源ラインのチェックでさえ可能になります。回路基板の構成XJTAGには、JTAGデバイス、Flashメモリー、コンフィグレーションROMをプログラムして基板を設定する機能があります。XJRunnerのシリアル番号操作機能と定義可能なログファイルを使えば、生産工程の状態を簡単に管理することができます。柔軟で持ち運び可能なJTAGソリューションライセンスはコンパクトなUSB-JTAGコネクタに書き込まれている為、要求に応じて色々なサイトで使用可能です。JTAG信号のスキューコントロール機能があるため、より長いケーブルを使用することが可能で、現実的な環境試験が可能です。

JTAGチェインが形成されれば、すぐにXJAnaliserやXJTAGのChainDebuggerを使ってJTAGチェインの完全性を確認できます。その後XJTAGを使って、基板上の信号をトレースしたり、デバイスをプログラミングしたり、基板上の全デバイスの相互接続テストや機能テストを実行することができるようになります。　これらの実行に、ターゲットのプログラムは必要無く、ＨＷデバッグに集中することができます。

＜試作基板の信頼性をXJTAGテストで向上＞

　設計段階で作成する事の出来るXJEaseテストプログラムにより、基板ができれば直ちに機能テストを開始できるようになります。まず、ビルトインのアドバンスド・インターコネクション・テスト機能でJTAGデバイスの相互接続と基板全体に対する接続テストが実施されます。
また、XJIOボードを使えば、外部インターフェースのテストも可能です。XJEaseは電線の接続やパーツの取り外しのような、あらゆる変更に即座に対応し、Ethernetのループバックテストのような複雑なテストも実行可能です。多くのJTAG未対応デバイスのテストプログラムが、XJTAGのウェブサイトからダウンロード可能です。また、独自のテストプログラムの作成や要求に合わせたカスタマイズも可能です。

＜試作基板をデバッグXJAnaliser＞

　簡単な３ステップの手順でXJAnaliserにより、JTAGデバイスのピンをグラフィカルに表示します。ピンやバスをワンクリックで読み書きすることが可能です。接続をトレースしたり、開放と短絡を確認する為にトグル信号を発生することも可能です。STAPL/JAMやSVF形式のファイルを使って、デバイスにプログラミングすることも簡単に行えます。XJAnaliserを使えば、僅か数分で新しい基板のデバッグが始められます。

JTAG について

ノートPCとポータブルなUSB-JTAGコネクタ（XJLink）があれば、何処に行っても完全なテスト環境とプログラミング環境が利用できます。

＜コンパクトな携帯型ソリューション-XJTAGの全ての機能が手の中に＞

　基板をオンサイトで修理する場合でも、持ち帰って修理する場合でも、XJTAGを使えば、素早く正確に不具合を追跡できます。設計、試作、製造の過程で開発した全てのインターコネクトテストと機能テストが利用可能です。XJIOボードを使って基板上にあるコネクタの信号の正当性も確認可能です。また、XJAnaliserによるピン状態の詳細表示と制御機能を使えば、不具合を発見し、修理後の検証ができるようになります。XJTAGのadvanced fault diagnostics機能は、不具合の発生場所をピンポイントに特定可能で、それによって、常に正しい部品を交換できます。JTAGデバイス（CPLD、FPGA等）とJTAG未対応デバイス（Flash等）の両方に使えるインシステム・プログラミング機能を使えば、ファームウェアのアップグレードも簡単に行えます。

以下の資料は XJTAG バウンダリスキャンテストシステムに標準のデモターゲットを用いて各種機能を体験学習できる概説書です（XJDemoボード：Ver 3.x 用）。　テストプログラム作成の和文概説書やJTAGチェインデバッガ概説書をご希望いただける場合は、別途ご要求下さい。

基板のリアルタイムデバッグ（XJAnalyser）

XJAnalyser 概説書

機能テスト・実装テスト実行環境（XJRunner）

XJRunner 概説書

new JTAGチェインデバッガ

JTAGチェインデバッガ 概説書

DFT カバレッジ解析機能

JTAG_DFTAnalysis

複数JTAGチェイン対応

JTAG_multipleTAP

Design For Testability Guidelines： JTAG バウンダリスキャンテストのためのガイドライン

Design For Testability Guidelines 日本語版

無償30日間お貸出し、ボードセットアップなどを行っています。　XJTAGはデバイスごとにテストをライブラリ化して再利用できるため、このようなことが容易に実現できています。　（従来のバウンダリスキャンツールでは無理でした）ご興味頂ける場合は誠に恐縮ですが、info@fuji-setsu.co.jp　もしくは、072-252-2128 までご要求を頂けると幸いです。

日本語版

バウンダリスキャンテストについてのスライド動画（1分30秒）
ルネサス SH2A BGA 搭載基板 実装検査の動画デモ （1分）

XJanalyzer リアルタイムデバッグ（音声付Flash　４分）
XJRunner 基板実装テスト、機能テスト（音声付Flash　３分）
XJDeveloper GUIで実装テスト、機能テストを簡単開発（音声付Flash　５分）
レイアウトビューア動画デモ　(音声無しFlash 30秒)

英語版（日本語字幕）

XJTAG 概要 と XJanalyzer リアルタイムデバッグ
XJDeveloper GUIで実装テスト、機能テストを開発
XJRunner 基板実装テスト、機能テスト
JTAGピンマッピング（基本編）

カタログ
XJTAG 概要リーフレット
XJAnalyser 基板のリアルタイムデバッグ
XJEase 機能テスト・実装テスト生成機能
XJRunner 機能テスト・実装テスト実行環境
XJTAG レイアウト ビューア
XJLink JTAGプローブ
XJIO IO拡張ボード
XJIO-PCI IO拡張ボード
XJAPI
XJTAG-PXI 版
XJTAG-PXI-XJLink2 版

LabView PXI で複数のXJTAGを同時制御　XJTAG-PXI、XJTAG_PXI_XJLink2 によりPXIラックから XJTAG バウンダリスキャンテストを実行させることが出来ます。

・ 標準PXIインターフェイス：研究・開発・製造現場に理想的な環境
・ モジュラー型で、拡張性のある仕組み
・ ライセンスを内蔵し、単独のPXIラックでもXJTAGを利用できる
・ 複数のテスト対象基板に対して、柔軟に再構成しコスト効率を向上
・ LabVIEW に容易に統合

XJTAG-PXI 詳細ページ

　XJIO-PCI は、XJTAGテストシステムの拡張ボードです。PCIカードに接続してテストすることで、テスト対象基板に対するアクセスを向上し、更なるオープン、ショートのテストを実現できるようになります。一連の、デジタルI/O、アナログI/O を擁し、テストのカバレッジと、欠陥解析の質を向上させるために用いることができます。また基板のJTAGチェインに接続されているネットだけでなく、PCIインターフェイスや他のコネクタに接続されているネット上の、欠陥の原因と場所を特定できるようになります。

XJIO-PCI 詳細ページ