最新ニュース
・新世代バウンダリスキャンテスト XJTAG XTR 複数JTAGチェイン・電圧/周波数測定をサポート
・バウンダリスキャンテスト Syntech社 生産性と品質を改善 XJTAG
・Fairchild Controls 社 RTW にて自動生成されるコードの検証効率を1000%改善!
・間違いだらけの MDD、形式手法、ソフトウエアプロダクトライン開発 ET2009 セッション資料公開しました
・Simulink/派生開発を支援するSPL・モデル検査・テスト自動生成ツール MATLAB EXPO講演資料公開
・ダイムラー社製品開発に採用される プロダクトライン開発バリアント管理ツール販売開始
・IEEE Software 特集記事 ”ドメインスペシフィックモデリングの良くない事例集” 日本語版公開 MetaEdit+
・JTAGデバッガ TI社 CCS4 をサポート 15万円 Ashling
・資料: LDRA tool suite IEC 61508 に対するテスト支援機能
・資料:T-VEC/TTM インターフェイス・ドリブンなモデルからのテスト自動生成 (形式手法)
・ロータバッハ NEWS 2009 和文公開
LDRA
LDRA 派生開発を支援する、静的解析、動的テスト カバレッジ、リグレッションテストツール
MISRA-C++:2008、MISRA-C:1998/MISRA-C:2004、CERT C、IPA/SECコーディング作法ガイド
IEC 61508(SIL 4-1), DO-178B(Levels A~E) 全レベルをサポート
- 組込みプレス Vol.17 特集 ”品質改善に役立つ注目のツール” で LDRA/TBsecure CERT C 静的解析ツール が紹介されました
- ソフトウエアセキュリティ MILSと Homeland Security スタンダードをサポート LDRA
- 株式会社 IHI DO-178B Level A 認証に必要な カバレッジ 解析を14倍速く!
- IPA/SEC コーディング作法ガイド プログラミングエラー例 x 20種全てを検出
- 派生開発 レガシーコードとソフトウエアテストのWebセミナー 済み
- MISRA C++:2008,CERT,IEC61508 ソフトウエアテストセミナー 報告
- CERT C セキュアコーディング
- TBvision 欠陥検出 /セキュリティの脆弱性 /メモリエラーの検出
- LDRAテスト自動化ツール IBM Rational Rose RealTime と統合
- LDRA DSP 開発環境をサポート Texas Instruments社 Code Composer
- LDRA DSP 開発環境をサポート Analog Devices社 VisualDSP++
- ロータバッハ社デバッガと統合/ ターゲットテスト と カバレッジ 解析
- LDRA テストツール NASAの Orion CEV Programme に採用
T-VEC
MetaEdit+
pure::variants
pure::variants プロダクトライン開発 バリアント管理ツール/ 同時並行開発されるファミリーをサポートできる唯一のツール
- 動画デモ SPLのバージョン管理 pure::variants と CVSの統合
- 組込みプレス Vol.17 記事 ”ADLによる組込みシステム開発” で pure::variants が紹介されました
- プロダクトライン開発 IBM Rational Rhapsody に対応/ 日本語動画デモ公開 pure::variants
- pure::variants EA 対応 動画デモ日本語版公開
- 2009年4月 ソフトウエアプロダクトライン開発セミナー 報告
- ダイムラー社による成功事例 ダウンロードは、こちらのページから
- Danfoss Drives社 IBM Software Innovation Prize 2008を受賞
- ジーメンス社のケーススタディ、pure::variants の使用事例 Markus Voelter氏講演動画
- ソフトウエア・プロダクトライン・ライフサイクル支援機能を強化 pure::variants Ver3
XJTAG
Ashling
Lauterbach
イベント
Upcoming
Past 2009
出展内容:
形式手法によるモデル検査・テストベクタ自動生成/ プロダクトライン開発支援ツール
講演: 派生開発を支援する、プロダクトライン開発、モデル検査、テスト自動生成ツールの統合
派生開発において変更・修正などされるモデルは、pure::variants により、体系的に資産管理され、バリアントの設定から個々のモデルと組合せが自動生成される。生成されたモデルに対し、T-VECは形式手法を用いて、テストベクタを生成することでモデル上の欠陥・矛盾を解析。テストベクタはLDRAテストツールを介してターゲット実行され、要件~テストに至る検証作業、トレーサビリティの自動化を支援。
出展内容:
プロダクトライン開発と、テスト自動化支援ツールの展示・デモ
XJTAG バウンダリスキャンテストツールの展示・デモ
講演:間違いだらけの MDD、形式手法、ソフトウエアプロダクトライン開発
”モノづくりを支える真似のできない生産技術を得る設計ツール活用法”
設計・検証ツールトラック DVT-8 11月20日 (金) 10:00~10:45 アネックスホール[F203]
05.18 LDRA ソフトウエアテストのセミナー(MISRA-C++:2008,CERT,IEC61508 など)
05.13-15 ESEC に出展しました
04.22 pure::variants ソフトウエアプロダクトラインセミナー開催
01.28-30 インターネプコン・ジャパン に、XJTAG 出展
Past 2008
12.03 MATLAB EXPO 2008 に出展と講演
11.19-21 Embedded Technology 2008 に出展
11.17-19 第五回システム検証の科学技術シンポジウムで発表
11.14 組込みシステム産学官連携技術交流会in熊本
11.7 JaSST'08 Kyushuに協賛・出展
10.29-31 組込みシステムシンポジウム2008ポスター&デモ
9.04-05 SWEST 10 に協賛しデモ展示しました
7.23-25 AT International 2008 に出展
5.14-16 ESEC 2008 に出展
2.08 プロダクトライン開発: コア資産・バライアビリティ管理に関するセミナーを開催
1.16-18 インターネプコンジャパンに、XJTAG 出展
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