XJTAG　JTAGバウンダリスキャンテスト 顧客事例

最新の対空システム開発を先導する Rheinmetall 社 Air Defence Group は、高機能・高信頼性で使いやすく、技術サポートにも優れた XJTAG を採用し、従来からのプローブベースの検査装置では適わない複雑な基板の十分なデバッグと、テスト工数削減を行えるようになった。

詳細情報

Syntech Technologies社（高品質なプロフェッショナルシステムの受託製造企業）は、製造基板の実装を直ちに検証する最上のバウンダリスキャンツールとしてXJTAGを採用した。そしてデザインforテストを考慮に入れたプロトタイプの受託開発にも、その用途を拡張している。

詳細情報

先導的なIPイノベータであるイマジネーションテクノロジー社は、XJTAGバウンダリスキャンを活用することで、業界をリードするマルチメディアIPを基にしたシステムオンチップのデザインの開発を加速しています。開発担当者は、早期試作ハードウエアのデバッグにこのシステムを用いることで、プロトタイプ基板ができる前にテストを開発できるようになり、製造上の欠陥は、デザインの検証を行うことなく、直ちに検出することができています。　

詳細情報へ

”通信機器製造のHaliplex社（豪）は、工数削減と不良品削減により年間US$100,000 以上のコストを削減しました。　高速、信頼、革新的なXJTAG バウンダリスキャンの利点を活用することで。”

詳細情報へ

”高速WAN接続のための PXS2 プロトコルエクスチェンジサーバ を素早く市場投入するために、Advanced Relay 社（ユージーン オレゴン州 米）は、高速・柔軟で使い易い XJTAG バウンダリスキャンツールを採用し、高い生産性/テストカバレッジ/コスト削減 を開発から製造段階に至るまで享受しています”

詳細情報へ

“Bluegiga 社 は、Bluetooth 無線システムの設計と量産においてXJTAG バウンダリスキャンシステムを用いた成果をあげています”

詳細情報へ

画像クリックで詳細PDF“組込みシステム開発向けのシングルボードコンピュータや評価基板のテストの課題を克服するために、Keith & Koep GmbH はXJTAGバウンダリスキャンツールを採用し、その包括的なテスト手法を統合させることでアセンブリ工程の改善を支援し、最大の生産性を、魅力的な費用で実現しています”

画像クリックで詳細PDF 　”Advance Tech Communications 社は、真の携帯電話一体型PCの先駆けとなる製品の、市場投入を早めるた
めの迅速なるテスト、そして高度に複雑な機能をテストする唯一の解として、XJTAG バウンダリスキャン開発・テストプラットフォームを採用しました”

画像クリックで詳細PDF 　”迅速かつ容易に、試作品に用いた証明済みのテストを、量産に再利用することができました” さらに高い生産性でハードウエアとソフトウエアを分離して評価できることが優位性であるとして、製品ソフトウエアをメモリにロードする前にハードウエアは数秒以内に完全にテストされることを言及しています。

画像クリックで詳細PDF 　”ワイヤレス・カメラシステム開発で知られるLink Research社は、RFのスペシャリストであり、バウンダリスキャンテストの実績に長けたEMS 企業であるBriton EMS 社と協業し、市場をリードする、Link HDとL1500 SD/HD搭載ワイヤレス・カメラシステムの開発・製造のスピードを上げることが出来ました”

画像クリックで詳細PDF　”KERAjet 社（Vila-real スペイン）は、基板設計の早期段階からXJTAGの特徴であるDFT（デザインforテスト）を取り入れることで、プロトタイプ設計から製造検査に至って繰り返し、バウンダリスキャンテストの効果を得ることができるようになりました”

画像クリックで詳細PDF”TVonics 社は、BGA搭載基板の開発・デバッグにXJTAGバウンダリスキャン開発システムを採用しています。そして製造パートナーである、Sony Manufacturing 社の生産ラインにXJTAGを組込んで、テストとボードへのプログラミングを一元化しました”

Curtiss-Wright （カーティス・ライト社）は、防衛・航空・産業機器向けにシステムを納入する世界的メーカです。
画像クリックで詳細情報 Curtiss-Wright は、PowerPCを用いた画像処理基板のデバッグとテストに、XJTAG社製バウンダリスキャンテストツールを採用しました。それにより、BGA、SDRAM、イーサネットコントローラ、ビデオインターフェイス、Flashメモリ、FPGAなどを搭載する高密度実装基板のテストが可能となりました。

画像クリックで詳細PDF　複数の比較製品を評価した結果、ARM 社のCambridge, UK にある開発のエンジニアリングチームは、XJTAG バウンダリスキャン開発システムを選択しました。
“XJTAG バウンダリスキャンテストツールは、非常にパワフルで、多目的に使用出来る費用効果の高い製品であり、RealView 開発ツールのデバッグとテストのプロセスを加速することが出来ました。９０％近くに上るカバレッジを達成し、ボード１枚辺りのテストは１０分になりました。このテストは、エンジニアリングチームからボードの製造を委託しているパートナーに至る開発プロセス全般にわたって繰り返し再利用され、記録され、改善されています” -ARM 社 Spencer Saunders, engineering manager, platforms, Development Systems

Jeff Smith氏 Westinghouse Rail Systems社　”バウンダリスキャンは必須です” XJIO を用いてバックプレーンコネクタを介したテストも実現　Jeff Smith氏（Westinghouse Rail Systems 社、R&Dチーム）は、"BGAを搭載するボードの開発をするうえで、バウンダリスキャンは必須（must-have）です。XJTAG製品を比較品から選別した理由は、使いやすく、追加のコストの心配なく機能テストのライブラリが用意されていること。外から見えないBGA接続にアクセスし各ピンやバス単位での読み書きが出来ること、それらをGUIでリアルタイムに目視できることなど、XJAnalyserの強力な機能などです。"“XJTAGを用いて、ターゲットで走るテストソフトウエア無しにハードウエアの検証が行えることも重要でした。お陰で、新しいボードが動かない時にHWかSWのどちらの問題か？といったよくある議論が回避されるようになります。

　Barric社においてテストカバレッジを向上させ、故障診断をスピードアップする為にXJTAGを選択した理由は、他社製品に比較して低価格であったことと、使いやすさによる開発効率向上です。加えてテストスクリプトがデバイス依存であり多くのプロジェクト間で再利用することができるようになって生産性を飛躍的に向上することができました。ボードのテストは数分単位になり（数時間から）、より厄介な欠陥も削減できるようになりました。