XJTAG　JTAGバウンダリスキャンテスト　レイアウト ビュウーア

　ODB++ から抽出されたレイアウト設計データに、バウンダリスキャンテスト結果を視覚的に表示して解析。例えば欠陥を含んだネット経路を視覚的に確認することで、問題の特定も容易になる。


レイアウト ビューア カタログ

レイアウトビューア動画デモ　30秒

　以下の例ではXJRunner による接続テストで検出された２つのネットの短絡が視覚的に特定されている。このレイアウトを見ればメモリーデバイス上の４箇所のパッドが最も欠陥の可能性が高いことを容易に判断できる。なぜなら図右上のBGAデバイス部分では、これらネットのピンが隣り合っていないので可能性は低い。そして実基板上で４箇所を先に調べることで、IC31のハンダ不良に問題があることを直ちに判明した。

基板写真のインポート

　基板表面と裏面の写真をインポートしてレイアウトビューアと合成させて、部品やネットのハイライト表示により欠陥箇所の特定を支援できる。

バウンダリスキャンテスタ

　XJTAGは以下の理由から、BGAなど搭載される基板の設計・デバッグ～実装検査・不良解析にまで幅広く活用されている。

　① テストプログラムはデバイスごとのテストライブラリをGUIで登録して簡単に構築できる。

　② 簡単なので設計時にテストプログラムからカバレッジを解析し、設計を早期改善。そして基板が上がればターゲットへのプログラミング無しにデバッグ・テストを直ちに開始できる。

　③ 設計変更に伴うプログラムの修正はテストライブラリの再利用で容易。繰り返しサイクルに対する効率を飛躍的に改善する。

従来製品と比較してXJTAGでは、デバイスごとにテストをライブラリ（部品）化して抽象度を上げることで、実装テスト・機能テストプログラムの開発や再利用が簡単になり短期間で使いこなせるようになったということである。

体験版とセットアップが無料

　BGA搭載など、あらゆる基板の設計・デバッグから量産検査・不良品解析に活用できることを証明するために、セットアップも含めた無料体験版を提供している。